一、芯片高低溫老化試驗(yàn)箱可程式定義說明

可程式是針對(duì)定值試而言的，可程式高低溫試驗(yàn)箱的具體表現(xiàn)為，可對(duì)試驗(yàn)程序進(jìn)行編程，以便在試驗(yàn)的進(jìn)程中，通過編程的控制，來對(duì)試驗(yàn)進(jìn)行自動(dòng)化運(yùn)作。

比如：客戶是做LED背光源的，需要進(jìn)行的試驗(yàn)程序?yàn)椋?0℃高溫條件下進(jìn)行8個(gè)小時(shí)的試驗(yàn)，-40℃的低溫環(huán)境下進(jìn)行4個(gè)小時(shí)的試驗(yàn)，再進(jìn)行90℃的高溫環(huán)境下進(jìn)行4個(gè)小時(shí)的試驗(yàn)，要滿足上述的多項(xiàng)試驗(yàn)要求，而且是在不間斷的情況下進(jìn)行試驗(yàn)，就可在試驗(yàn)運(yùn)行開始之前，在高低溫試驗(yàn)箱的控制器上進(jìn)行試驗(yàn)程序編程，高低溫試驗(yàn)箱會(huì)根據(jù)試驗(yàn)程序，進(jìn)行精確的試驗(yàn)。

二、芯片高低溫老化試驗(yàn)箱性能：

指氣冷式在室溫20℃，空載時(shí)

規(guī)格型號(hào)：HE-WS-80/100/150/225/408/800/1000（A、B、C、D、E）

容量：

80升內(nèi)箱尺寸（寬*高*深）：400X500X400mm

150升內(nèi)箱尺寸（寬*高*深）：500X600X500mm

225升內(nèi)箱尺寸（寬*高*深）：600X750X500mm

408升內(nèi)箱尺寸（寬*高*深）：600X850X800mm

800升內(nèi)箱尺寸（寬*高*深）：1000X1000X800mm

1000升內(nèi)箱尺寸（寬*高*深）：1000X1000X1000mm

溫度范圍：

A表示：0℃～+150℃，B表示：-20℃～+150℃，C表示：-40℃～+150℃，

D表示：-60℃～+150℃，E表示：-70℃～+150℃

溫度精度：±0.01℃

溫度波動(dòng)度：±0.5℃

溫度均勻度：±2.0℃

濕度范圍：20%RH～98%RH

濕度精度：±0.1%R.H

濕度波動(dòng)度：±2.0%R.H.

濕度均勻度：±3%R.H.

升溫速率：平均3℃/min（非線性、空載時(shí)；從常溫+25℃升至+85℃約20min）；可按要求定制非標(biāo)規(guī)格

降溫速度：平均1℃/min（非線性、空載時(shí)；從常溫+25℃降至-40℃約65min）；可按要求定制非標(biāo)規(guī)格

三、使用注意事項(xiàng)：

1.在操作當(dāng)中，除非有必要，請(qǐng)不要打開箱門，否則可能導(dǎo)致不良的后果。

2.請(qǐng)注意本機(jī)必須安全確實(shí)接地，以免產(chǎn)生靜電感應(yīng)。

3.避免于五分鐘內(nèi)關(guān)閉再開啟冷凍機(jī)組。

4.如果箱內(nèi)放置發(fā)熱試品時(shí)，試品電源控制請(qǐng)使用外加電源，不要直接使用本機(jī)電源。放入高溫試料作低溫試驗(yàn)時(shí)應(yīng)注意：開啟箱門的時(shí)間要盡可能的短。

5.電路斷路器、超溫保護(hù)器，提供本機(jī)測(cè)試品以及操作者的安全保護(hù)，故請(qǐng)定期檢查。

6.禁止試驗(yàn)爆炸性，可燃性及高腐蝕性物質(zhì)。

7.照明燈除必要時(shí)打開外，其余時(shí)間應(yīng)關(guān)閉。

8.在做低溫前，應(yīng)將工作室擦干，60℃時(shí)烘干1小時(shí)。

9.做高溫試驗(yàn)時(shí)，當(dāng)溫度超過55℃以上的情況下，切忌不可開啟冷機(jī)。

10.請(qǐng)?jiān)敿?xì)閱讀說明書，方可操作本機(jī)。